Thiết Bị Đo Độ Dày Lớp Phủ
Máy Phân Tích Độ Dày Lớp Phủ XRF của VRAY cung cấp đo lường nhanh, chính xác và không phá hủy các lớp phủ và mạ trên nhiều loại vật liệu khác nhau. Sử dụng công nghệ huỳnh quang tia X tiên tiến, các thiết bị này cung cấp phân tích độ dày đáng tin cậy cho các lớp phủ đơn hoặc nhiều lớp—bao gồm vàng, niken, crôm, kẽm và nhiều kim loại khác—với độ chính xác xuất sắc. Lý tưởng cho kiểm soát chất lượng trong sản xuất, mạ điện, điện tử và ngành công nghiệp ô tô, các máy phân tích của chúng tôi có giao diện thân thiện với người dùng, kết quả nhanh chóng và khả năng hiệu chuẩn mạnh mẽ. Dù sử dụng trong phòng thí nghiệm hay trên dây chuyền sản xuất, VRAY đảm bảo tăng hiệu suất, giảm lãng phí và duy trì chất lượng sản phẩm đồng đều.
| VR-XAU | VR-XD1000 | |
|---|---|---|
|
|
|
| Kích thước máy | 545 x380 x 435mm | 550 x760 x 635mm |
| Kích thước buồng mẫu | 500x300x210mm | - |
| Cân nặng | 48kg | 100kg |
| Máy dò | Bộ dò Si-Pin | PC Counter detector |
| Nguồn điện | 100-220V | 100-220V |
| Nguồn kích thích Mục tiêu | W target | W target |
| Công suất định mức | - | 0 |
| Nhiệt độ | 10℃-35℃ | 10℃-35℃ |
| Độ ẩm | 40%-70% relative humi | 40%-70% relative humi |
| Trưng bày | - | - |
| Phong cách | Benchtop | Benchtop |
Thiết Bị Đo Độ Dày Lớp Phủ – Tổng Quan
Dòng máy phân tích độ dày lớp phủ của VRAY cung cấp một loạt các giải pháp kiểm tra không phá hủy toàn diện, được thiết kế để đáp ứng nhu cầu công nghiệp đa dạng về độ chính xác, hiệu quả và độ tin cậy. Sử dụng công nghệ huỳnh quang tia X (XRF) tiên tiến, các thiết bị này cung cấp đo lường chính xác các lớp phủ đơn và nhiều lớp—bao gồm kim loại quý, hợp kim và lớp mạ chức năng—trên nhiều loại nền khác nhau. Với các tính năng như nguồn tia X micro-focus, thuật toán EFP thông minh, nền tảng tự động và phần mềm thân thiện với người dùng, các máy phân tích của VRAY đảm bảo độ lặp lại cao và dễ vận hành. Lý tưởng cho kiểm soát chất lượng, tối ưu hóa quy trình và giám sát tuân thủ trong các ngành như điện tử, ô tô, hàng không vũ trụ, trang sức và hoàn thiện bề mặt, các thiết bị này kết hợp công nghệ tiên tiến với tính năng thực tiễn để hỗ trợ chất lượng sản phẩm vượt trội và hiệu quả vận hành tối ưu.
Ba Danh Mục Sản Phẩm
Các máy phân tích độ dày lớp phủ của VRAY được phân chia chiến lược thành ba danh mục riêng biệt nhằm đáp ứng các yêu cầu công nghiệp khác nhau, ngân sách và nhu cầu kỹ thuật. Mỗi danh mục được thiết kế để cung cấp độ chính xác, độ tin cậy và vận hành thân thiện với người dùng, đồng thời đáp ứng các môi trường ứng dụng cụ thể—từ kiểm tra chất lượng định kỳ đến nghiên cứu nâng cao và kiểm tra tự động với hiệu suất cao.
Dòng Sản Phẩm Hiệu Quả Cao Về Chi Phí:
Lý tưởng cho các doanh nghiệp vừa và nhỏ hoặc các ứng dụng cần khả năng đo lớp phủ cơ bản mà không ảnh hưởng đến độ chính xác. Các mẫu như VR-T5 Plus có thiết kế nhỏ gọn, phần mềm trực quan để đo lớp mạ vàng, lớp mạ kim loại quý và các vật liệu mạ phổ biến như Zn, Sn và Ni. Hệ thống này mang lại giá trị xuất sắc với yêu cầu đào tạo tối thiểu và được sử dụng rộng rãi trong các xưởng mạ điện và sản xuất trang sức.
Dòng Hiệu Suất Chuyên Nghiệp:
Được thiết kế cho các phòng thí nghiệm và ngành công nghiệp nơi độ chính xác cao hơn, phân tích nhiều lớp và phát hiện nguyên tố mở rộng là yếu tố quan trọng. Các thiết bị như VR-XAU tích hợp cảm biến Si-PIN độ phân giải cao, thuật toán EFP tiên tiến và hệ thống quang học cải tiến để đo các cấu trúc lớp phủ phức tạp—bao gồm lớp hợp kim, nguyên tố nhẹ và độ dày cỡ nano. Các máy phân tích này hỗ trợ tuân thủ tiêu chuẩn quốc tế và được ưu tiên trong các ngành hàng không vũ trụ, quân sự, ô tô và tinh chế kim loại quý.
Dòng Tự Động Cao Cấp:
Các sản phẩm như VR-XD1000 tích hợp bàn XY lập trình được, quang đường từ trên xuống dưới, phân tích nhiều lớp và khả năng phát hiện nguyên tố mở rộng. Có khả năng xử lý bề mặt cong và lớp phủ cỡ nano, các hệ thống này được sử dụng trong sản xuất bán dẫn, chế tạo PCB, thành phần năng lượng tái tạo và nghiên cứu vật liệu tiên tiến.
Dù bạn cần một giải pháp kinh tế cho kiểm tra hàng ngày, một công cụ chuyên nghiệp cho R&D, hay một hệ thống tự động hoàn toàn cho dây chuyền sản xuất, VRAY cung cấp máy phân tích độ dày lớp phủ phù hợp để nâng cao kiểm soát chất lượng và hiệu quả vận hành.
Thiết Bị Phân Tích Độ Dày Lớp Phủ: VR-XAU
1. Tổng Quan Sản Phẩm
VRAY VR-XAU là một máy phân tích độ dày lớp phủ cầm tay, chính xác cao và không phá hủy, được thiết kế để đo các lớp phủ đa tầng tiên tiến. Sử dụng công nghệ huỳnh quang tia X (XRF), thiết bị cung cấp phân tích độ dày chính xác và đáng tin cậy cho đến 23 lớp cùng lúc, lý tưởng cho các ứng dụng trong mạ kim loại quý, điện tử, ô tô, hàng không vũ trụ và các phòng thí nghiệm kiểm soát chất lượng. Với các tính năng như nền tảng di chuyển chính xác cao, chức năng phóng to thủ công và phần mềm thông minh, VR-XAU đảm bảo vận hành hiệu quả, dễ sử dụng đồng thời tuân thủ nghiêm ngặt các tiêu chuẩn quốc tế.
2. Tính Năng Chính
- Phân tích đa lớp: Có khả năng đo đồng thời lên đến 23 lớp phủ.
- Phạm Vi Nguyên Tố Rộng: Phân tích các nguyên tố từ Kali (K₁₉) đến Uranium (U₉₂).
- Thuật toán EFP tiên tiến: Nâng cao độ chính xác và độ tin cậy trong đo lường.
- Bàn Di Chuyển Chính Xác Cao: Bàn di chuyển XY với phạm vi 50mm x 50mm cho định vị mẫu chính xác.
- Ống X-Ray Microfocus & Detector Si-Pin: Đảm bảo độ phân giải và độ nhạy cao.
- Khả Năng Zoom và Lấy Nét: Zoom quang học: 38-46X, zoom kỹ thuật số: 400-200X
- Zoom và lấy nét thủ công với ống kính độ nhạy cao và CCD màu
- Bù Khoảng Cách: Đo các mẫu không đều và hình dạng đặc biệt với phạm vi phóng to từ 0–30mm.
- Công Nghệ Lấy Nét Trong Điều Kiện Ánh Sáng Thấp: Giảm khuếch tán điểm xuống dưới 10% để nhắm mục tiêu chính xác.
- Phần Mềm Thân Thiện Người Dùng: Tự động phát hiện lỗi và hướng dẫn người dùng thực hiện các bước khắc phục.
- Tuân Thủ Tiêu Chuẩn: Đáp ứng các tiêu chuẩn DIN ISO 3497, DIN 50987 và ASTM B568.
3. Ưu Điểm
- Phân tích không phá hủy: Bảo toàn mẫu trong khi cung cấp các phép đo chính xác.
- Hiệu Suất Cao: Giảm thời gian thử nghiệm xuống còn 60 giây cho mỗi lần phân tích.
- Đa Dụng: Phù hợp với nhiều ngành công nghiệp như trang sức, điện tử, ô tô, và nhiều lĩnh vực khác.
- Độ Chính Xác Nâng Cao: Cung cấp dữ liệu đáng tin cậy cho các lớp phủ mỏng như Au: 0.182µm, Pd: 0.352µm, và Pt: 1.157µm.
- Hiệu Quả Chi Phí: Giúp giảm lãng phí vật liệu và cải thiện quy trình kiểm soát chất lượng.
- Dễ Dàng Vận Hành: Giảm yêu cầu đào tạo và lỗi vận hành của người dùng.
- Thiết Kế Bền Bỉ: Phù hợp với môi trường phòng thí nghiệm và công nghiệp, với cấu trúc chắc chắn và quản lý nhiệt tiên tiến.
Lý tưởng cho đảm bảo chất lượng và ứng dụng nghiên cứu, VR-XAU kết hợp công nghệ tiên tiến với chức năng thực tiễn để đáp ứng các nhu cầu khắt khe trong phân tích độ dày lớp phủ hiện đại.
Thiết Bị Phân Tích Độ Dày Lớp Phủ: VR-XD 1000
1. Tổng Quan Sản Phẩm
VR-XD1000 là máy phân tích độ dày lớp phủ XRF (Huỳnh Quang Tia X) có hiệu quả chi phí cao, được thiết kế để đo linh hoạt và hiệu quả các lớp phủ đơn hoặc đa lớp cũng như thành phần dung dịch mạ. Với nguồn tia X vi tiêu điểm tiên tiến và thuật toán EFP thông minh, máy cung cấp phân tích nhanh, không phá hủy và độ chính xác cao ngay cả trên các chi tiết cỡ lớn, hình dạng phức tạp và mẫu có bề mặt lõm hoặc không bằng phẳng. Lý tưởng cho các ngành công nghiệp như ô tô, điện tử, điện lực và hoàn thiện kim loại, VR-XD1000 kết hợp hiệu suất, dễ sử dụng và độ tin cậy trong một hệ thống để bàn nhỏ gọn.
2. Tính Năng Chính
- Quang Đạo Từ Trên Xuống: Cho phép đo ổn định và hiệu quả các mẫu lớn, hình dạng không đều và kiểm tra đa điểm.
- Nguồn Tia X Vi Tiêu Điểm: Hệ thống quang học tích hợp cho phép phân tích các khu vực nhỏ đến 0,01mm².
- Phóng To và Bù Khoảng Cách: Đo các mẫu có chiều cao bề mặt khác nhau và các chỗ lõm trong phạm vi 0–90mm.
- Thuật toán EFP tiên tiến: Hỗ trợ phân tích lớp phủ đa lớp và đa nguyên tố, bao gồm thành phần và độ dày của các lớp hợp kim và các nguyên tố lặp lại trong các lớp.
- Công Nghệ Tách Quang Phổ: Giảm nhiễu từ các nguyên tố lân cận, nâng cao độ chính xác và giới hạn phát hiện.
- Giao Diện Thân Thiện Người Dùng: Vận hành đơn giản với phần mềm trực quan hướng dẫn hiệu chuẩn, đo lường và chẩn đoán lỗi.
- Hỗ Trợ Ứng Dụng Rộng: Phù hợp với các hệ thống lớp phủ Zn/Fe, ZnNi/Fe, Sn/Cu, Ag/Sn, Cr/Ni/Cu và nhiều hệ thống khác.
3. Ưu Điểm
- Độ Chính Xác và Lặp Lại Cao: Cung cấp dữ liệu độ dày và thành phần đáng tin cậy, cần thiết cho đảm bảo chất lượng.
- Phân tích không phá hủy: Bảo toàn nguyên vẹn mẫu trong khi cung cấp kết quả tức thì.
- Thích Ứng Với Hình Học Phức Tạp: Có khả năng đo các chi tiết lõm, cong và cỡ lớn một cách dễ dàng.
- Tiết Kiệm Thời Gian và Chi Phí: Giảm lãng phí và làm lại nhờ phân tích nhanh và chuẩn bị mẫu tối thiểu.
- Ứng Dụng Rộng Trong Ngành: Lý tưởng cho linh kiện ô tô, thiết bị vệ sinh, điện tử, bộ phận điện lực và hoàn thiện kim loại nói chung.
- Chi Phí Vận Hành Thấp: Thiết kế tiết kiệm năng lượng và yêu cầu bảo trì tối thiểu.
- Tuân thủ quy định: Giúp người dùng đáp ứng các tiêu chuẩn quốc tế về chất lượng lớp phủ và thành phần vật liệu.
Phù hợp cho cả phòng thí nghiệm kiểm soát chất lượng và dây chuyền sản xuất, VR-XD1000 mang đến giải pháp mạnh mẽ nhưng tiết kiệm chi phí cho các thách thức hiện đại trong phân tích độ dày lớp phủ và vật liệu.