เครื่องสเปกโตรมิเตอร์ EDXRF สำหรับการวิเคราะห์ความหนาชั้นเคลือบ

VR-XAU เป็นเครื่องวิเคราะห์ความหนาชั้นเคลือบ EDXRF (Energy Dispersive X-Ray Fluorescence) ขั้นสูง ออกแบบมาสำหรับการวัดชั้นเคลือบเดี่ยวและหลายชั้นอย่างแม่นยำโดยไม่ทำลายตัวอย่าง บนวัสดุต่าง ๆ ผสานฮาร์ดแวร์ล้ำสมัยกับซอฟต์แวร์อัจฉริยะ มอบผลลัพธ์ที่เชื่อถือได้สำหรับการควบคุมคุณภาพ การปรับปรุงกระบวนการ และการตรวจสอบการปฏิบัติตามมาตรฐานในหลากหลายอุตสาหกรรม

ติดตั้งหลอดรังสีเอ็กซ์ไมโครโฟกัสและเครื่องตรวจจับ Si-PIN ความละเอียดสูง เครื่องมือนี้สามารถวิเคราะห์ชั้นเคลือบได้พร้อมกันสูงสุด 23 ชั้น ด้วยความแม่นยำสูงถึงระดับซับไมครอน อัลกอริธึม EFP ขั้นสูงช่วยให้การวัดมั่นคงและทำซ้ำได้แม้บนพื้นผิวที่ซับซ้อนหรือโค้ง

คุณสมบัติเด่น ได้แก่ แพลตฟอร์ม XY ความแม่นยำสูงสำหรับการวัดหลายจุดอัตโนมัติ กล้อง CCD สีในตัวพร้อมระบบซูมและโฟกัสแบบแมนนวล และเทคโนโลยีโฟกัสในสภาพแสงน้อยเพื่อจัดตำแหน่งจุดวัดอย่างสม่ำเสมอ ซอฟต์แวร์ใช้งานง่ายตรวจจับข้อผิดพลาดอัตโนมัติและให้คำแนะนำ ช่วยลดเวลาในการฝึกอบรมและลดความผิดพลาด

VR-XAU ได้มาตรฐานสากลรวมถึง DIN ISO 3497, ASTM B568 และ DIN 50987 ทำให้เป็นโซลูชันที่เหมาะสำหรับการชุบโลหะมีค่า อิเล็กทรอนิกส์ ยานยนต์ และการผลิตอากาศยาน การออกแบบแข็งแรงและความสามารถในการวิเคราะห์ขั้นสูงทำให้เป็นเครื่องมือที่คุ้มค่าสำหรับการปรับปรุงคุณภาพผลิตภัณฑ์และประสิทธิภาพการผลิต