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コーティング厚さ測定装置

VRAY の XRF コーティング厚さ分析装置は、さまざまな材料のコーティングやめっき層を迅速かつ正確に非破壊で測定します。高度な X 線蛍光(XRF)技術を活用し、単層および多層コーティング(ゴールド、ニッケル、クロム、亜鉛などを含む)の信頼性の高い厚さ分析を、卓越した精度で提供します。製造、電気めっき、電子機器、自動車産業での品質管理に最適で、ユーザーフレンドリーなインターフェース、高速測定、堅牢な校正機能を備えています。ラボでも生産ラインでも使用可能で、効率向上、廃棄物削減、一貫した製品品質を実現します。

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製品パラメータ
VR-XAU VR-XD1000
VR-X3
機械寸法 545 x380 x 435mm 550 x760 x 635mm
サンプルチャンバーサイズ 500x300x210mm -
重量 48kg 100kg
検出器 Si-PIN検出器 PC Counter detector
電源 100-220V 100-220V
励起源ターゲット W target W target
定格出力 - 0
動作温度 10℃-35℃ 10℃-35℃
湿度 40%-70% relative humi 40%-70% relative humi
ディスプレイ - -
スタイル Benchtop Benchtop

膜厚測定装置 概要

VRAY のコーティング厚さ分析装置シリーズは、多様な産業ニーズに応える非破壊測定ソリューションを包括的に提供します。高度な X 線蛍光(XRF)技術を採用し、貴金属、合金、機能性めっきなど、さまざまな基材上の単層および多層コーティングの正確な測定を可能にします。マイクロフォーカス X 線源、インテリジェント EFP アルゴリズム、自動化プラットフォーム、ユーザーフレンドリーなソフトウェアなどの機能により、高い再現性と操作の容易さを実現しています。電子機器、自動車、航空宇宙、宝飾品、表面仕上げなどの産業での品質管理、工程最適化、規格遵守モニタリングに最適で、最先端の技術と実用性を融合し、優れた製品品質と業務効率の向上を支援します。

3つの製品カテゴリー

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VRAY のコーティング厚さ分析装置は、さまざまな産業ニーズ、予算、技術要求に対応するため、戦略的に3つのカテゴリーに分類されています。それぞれのカテゴリーは、精度、信頼性、操作のしやすさを提供するよう設計されており、日常的な品質チェックから高度な研究や高スループットの自動検査まで、特定の用途環境に対応します。

高コストパフォーマンスシリーズ:

中小企業や、精度を損なうことなく基本的なコーティング測定機能を必要とする用途に最適です。VR-T5 Plus のようなモデルは、コンパクトな設計と直感的なソフトウェアを備え、金めっき、貴金属めっき、亜鉛(Zn)、錫(Sn)、ニッケル(Ni)などの一般めっき材料の測定が可能です。最小限のトレーニングで使用でき、高いコストパフォーマンスを提供し、電気めっき工場や宝飾品製造で広く使用されています。

プロフェッショナルパフォーマンスシリーズ:

より高い精度、多層分析、拡張元素検出が求められるラボや産業用途向けに設計されています。VR-XAU のような機器は、高分解能 Si-PIN 検出器、先進的な EFP アルゴリズム、強化された光学システムを備え、複雑なコーティング構造(合金層、軽元素、サブミクロン厚さなど)の測定に対応します。国際規格への準拠をサポートしており、航空宇宙、軍事、自動車、貴金属精錬分野で選ばれています。

ハイエンド自動化シリーズ:

VR-XD1000 のような製品は、プログラム可能な XY ステージ、上下方向光学経路、多層分析、拡張元素検出を統合しています。曲面やナノスケールコーティングの測定も可能で、半導体製造、PCB 製造、再生可能エネルギー部品、高度材料研究で使用されます。

日常のチェック向けの経済的ソリューション、研究開発用のプロフェッショナルツール、生産ライン向けの完全自動化システムなど、VRAY は用途に応じたコーティング厚さ分析装置を提供し、品質管理と業務効率の向上を支援します。

膜厚分析装置:VR-XAU

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1. 製品概要

VRAY VR-XAU は、高精度で非破壊のコーティング厚さ分析装置で、先進的な多層コーティング測定に対応しています。X線蛍光(XRF)技術を活用し、最大23層まで同時に正確かつ信頼性の高い厚さ分析を実現。貴金属めっき、電子機器、自動車、航空宇宙、品質管理ラボなどでの用途に最適です。高精度移動プラットフォーム、手動ズーム機能、インテリジェントソフトウェアなどの機能により、効率的でユーザーフレンドリーな操作を提供し、国際規格への厳格な準拠も確保します。

2. 主な特徴

  • 多層分析: 最大 23 層 のコーティングを同時に測定可能。
  • 広範囲元素分析: カリウム(K₁₉)からウラン(U₉₂)までの元素を分析可能。
  • 高度なEFPアルゴリズム: 測定精度と信頼性を向上。
  • 高精度移動プラットフォーム: XY 移動プラットフォーム(50mm × 50mm)で正確な位置決めを実現。
  • マイクロフォーカス X 線管 & Si-PIN 検出器: 高解像度と高感度を確保。
  • ズーム・フォーカス機能: 光学ズーム:38–46X、デジタルズーム:200–400X
  • 高感度レンズとカラー CCD による手動ズーム・フォーカス操作が可能。
  • 距離補正機能: 0~30mmのズーム範囲で不均一・特殊形状サンプルの測定が可能。
  • 低照度フォーカス技術: スポットの拡散を 10% 以下に抑え、精密なターゲティングを実現。
  • ユーザーフレンドリーなソフトウェア: 故障を自動検出し、修正手順をガイド。
  • 規格遵守: DIN ISO 3497、DIN 50987、ASTM B568 に準拠。

3. 利点

  • 非破壊分析: サンプルの完全性を維持しつつ、精密な測定を提供。
  • 高効率: 1分析あたりのテスト時間を60秒に短縮。
  • 多用途性: 宝飾品、電子機器、自動車など幅広い産業に対応。
  • 高精度: Au: 0.182µm、Pd: 0.352µm、Pt: 1.157µmなどの薄膜コーティングも正確に測定。
  • コスト効率: 材料の無駄を削減し、品質管理プロセスを改善。
  • 簡単操作: 直感的なソフトウェアと自動化機能により、トレーニングや操作ミスを最小限に抑制。
  • 堅牢な設計: 耐久構造と高度な熱管理により、実験室および産業環境での使用に適応。

品質保証や研究用途に最適で、VR-XAUは最新技術と実用性を組み合わせ、現代のコーティング厚さ分析の要求を満たします。

膜厚分析装置:VR-XD 1000

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1. 製品概要

VR-XD1000は、単層・多層コーティングおよびめっき浴組成の多用途で効率的な測定のために設計された、コストパフォーマンスに優れたX線蛍光(XRF)コーティング厚さ分析装置です。先進のマイクロフォーカスX線源とインテリジェントEFPアルゴリズムにより、大型ワークピース、複雑形状、凹部や不均一面を持つサンプルでも迅速かつ非破壊で高精度な分析を実現します。自動車、電子機器、電力、金属仕上げ産業などに最適で、XD-1000はコンパクトなベンチトップシステムに性能、使いやすさ、信頼性を兼ね備えています。

2. 主な特徴

  • 上下光学経路: 大型で不規則な形状のサンプルやマルチポイント測定でも安定かつ効率的な測定を実現。
  • マイクロフォーカスX線源: 統合光学システムにより、0.01mm²の微小領域の分析が可能。
  • ズームおよび距離補正: 高さや凹部の異なるサンプルも0~90mmの範囲で測定可能。
  • 高度なEFPアルゴリズム: 合金層の組成や厚さ、層をまたぐ同一元素を含む、多層・多元素コーティング分析に対応。 
  • スペクトル分解技術: 隣接元素による干渉を低減し、測定精度と検出限界を向上。
  • ユーザーフレンドリーなインターフェース: 直感的なソフトウェアがキャリブレーション、測定、故障診断をガイドし、操作を簡素化。 
  • 幅広い適用範囲: Zn/Fe、ZnNi/Fe、Sn/Cu、Ag/Sn、Cr/Ni/Cu など、さまざまなコーティングシステムに対応。

3. 利点

  • 高精度・高再現性: 品質保証に不可欠な正確な厚さおよび組成データを提供。
  • 非破壊分析: サンプルの損傷を防ぎながら即時結果を取得可能。
  • 複雑形状への適応: 凹部、曲面、大型部品の測定も容易に実施可能。
  • 時間・コスト効率: 高速分析と最小限のサンプル準備で廃棄物や手直しを削減。
  • 幅広い産業用途: 自動車部品、衛生設備、電子機器、電力部品、一般的な金属仕上げに最適。
  • 低運用コスト: 省エネルギー設計でメンテナンスも最小限。
  • 規格遵守: 国際基準に準拠したコーティング品質および材料組成の評価をサポート。

品質管理ラボから生産現場まで対応可能で、VR-XD1000は現代のコーティング厚さおよび材料分析における強力かつ経済的なソリューションを提供します。

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