Perangkat Ketebalan Pelapisan
Analyzer Ketebalan Pelapisan XRF VRAY memberikan pengukuran lapisan pelapisan dan plating yang cepat, akurat, dan non-destruktif pada berbagai material. Dengan memanfaatkan teknologi fluoresensi sinar-X (XRF) canggih, perangkat ini menyediakan analisis ketebalan yang andal untuk pelapisan tunggal maupun multi-lapisan—termasuk emas, nikel, krom, seng, dan lainnya—dengan presisi tinggi. Ideal untuk kontrol kualitas di bidang manufaktur, elektroplating, elektronik, dan otomotif, analyzer kami dilengkapi antarmuka ramah pengguna, hasil cepat, dan kemampuan kalibrasi yang kuat. Baik digunakan di laboratorium maupun di jalur produksi, VRAY memastikan efisiensi yang lebih baik, pengurangan limbah, dan kualitas produk yang konsisten.
| VR-XAU | VR-XD1000 | |
|---|---|---|
|
|
|
| Ukuran mesin | 545 x380 x 435mm | 550 x760 x 635mm |
| Ukuran ruang sampel | 500x300x210mm | - |
| Berat | 48kg | 100kg |
| Detektor | Detektor Si-Pin | Detektor penghitung PC |
| Catu daya | 100-220V | 100-220V |
| Sumber eksitasi Target | Target W | Target W |
| Daya terukur | - | 0 |
| Suhu | 10℃-35℃ | 10℃-35℃ |
| Kelembapan | Kelembapan relatif 40%-70% | Kelembapan relatif 40%-70% |
| Layar | - | - |
| Gaya | Meja kerja | Meja kerja |
Perangkat Pengukur Ketebalan Lapisan – Ikhtisar
Seri analyzer ketebalan pelapisan VRAY menawarkan rangkaian lengkap solusi pengujian non-destruktif yang dirancang untuk memenuhi berbagai kebutuhan industri dengan presisi, efisiensi, dan keandalan. Dengan memanfaatkan teknologi fluoresensi sinar-X (XRF) canggih, perangkat ini memberikan pengukuran akurat pada pelapisan tunggal maupun multi-lapisan—termasuk logam mulia, paduan, dan pelapisan fungsional—pada berbagai substrat. Dengan fitur seperti sumber sinar-X mikro fokus, algoritma EFP cerdas, platform otomatis, dan perangkat lunak yang mudah digunakan, analyzer VRAY menjamin repeatabilitas tinggi dan kemudahan operasi. Ideal untuk kontrol kualitas, optimisasi proses, dan pemantauan kepatuhan di industri seperti elektronik, otomotif, dirgantara, perhiasan, dan finishing permukaan, instrumen ini menggabungkan inovasi mutakhir dengan fungsionalitas praktis untuk mendukung kualitas produk unggul dan keunggulan operasional.
Tiga Kategori Produk
Analyzer ketebalan pelapisan VRAY dibagi menjadi tiga kategori utama untuk memenuhi berbagai kebutuhan industri, anggaran, dan tuntutan teknis. Setiap kategori dirancang untuk memberikan presisi, keandalan, dan kemudahan penggunaan sambil menyesuaikan dengan lingkungan aplikasi tertentu—mulai dari pemeriksaan kualitas rutin hingga penelitian lanjutan dan inspeksi otomatis berkapasitas tinggi.
Seri Hemat Biaya Tinggi:
Ideal untuk usaha kecil hingga menengah atau aplikasi yang membutuhkan kemampuan pengukuran pelapisan esensial tanpa mengorbankan akurasi. Model seperti VR-T5 Plus memiliki desain kompak, perangkat lunak intuitif untuk mengukur pelapisan pada plating emas, pelapisan logam mulia, dan material plating umum seperti Zn, Sn, dan Ni. Sistem ini menawarkan nilai yang sangat baik dengan kebutuhan pelatihan minimal dan banyak digunakan di toko elektroplating serta pembuatan perhiasan.
Seri Performa Profesional:
Dirancang untuk laboratorium dan industri di mana presisi tinggi, analisis multi-lapisan, dan deteksi unsur yang luas sangat penting. Instrumen seperti VR-XAU dilengkapi dengan detektor Si-PIN resolusi tinggi, algoritma EFP canggih, dan sistem optik yang ditingkatkan untuk mengukur struktur pelapisan yang kompleks—termasuk lapisan paduan, unsur ringan, dan ketebalan sub-mikron. Analyzer ini mendukung kepatuhan terhadap standar internasional dan banyak digunakan di sektor dirgantara, militer, otomotif, dan pemurnian logam mulia.
Seri Otomatis High-End:
Produk seperti VR-XD1000 mengintegrasikan tahap XY yang dapat diprogram, jalur optik dari atas ke bawah, analisis multi-lapisan, dan deteksi unsur yang diperluas. Mampu menangani permukaan melengkung dan pelapisan skala nano, sistem ini digunakan dalam produksi semikonduktor, fabrikasi PCB, komponen energi terbarukan, dan penelitian material lanjutan.
Apakah Anda membutuhkan solusi ekonomis untuk pemeriksaan rutin, alat profesional untuk R&D, atau sistem otomatis penuh untuk jalur produksi, VRAY menawarkan analyzer ketebalan pelapisan yang disesuaikan untuk meningkatkan kontrol kualitas dan efisiensi operasional.
Penganalisis Ketebalan Lapisan: VR-XAU
1. Ikhtisar Produk
VRAY VR-XAU adalah analyzer ketebalan pelapisan non-destruktif dengan presisi tinggi yang dirancang untuk pengukuran pelapisan multi-lapisan tingkat lanjut. Memanfaatkan teknologi fluoresensi sinar-X (XRF), perangkat ini memberikan analisis ketebalan yang akurat dan andal untuk hingga 23 lapisan secara simultan, menjadikannya ideal untuk aplikasi plating logam mulia, elektronik, otomotif, dirgantara, dan laboratorium kontrol kualitas. Dengan fitur seperti platform bergerak presisi tinggi, fungsi zoom manual, dan perangkat lunak cerdas, VR-XAU menjamin operasi yang efisien dan ramah pengguna sambil tetap mematuhi standar internasional.
2. Fitur Utama
- Analisis Multi-Lapisan: Mampu mengukur hingga 23 lapisan pelapisan secara bersamaan.
- Rentang Unsur Luas: Menganalisis unsur dari Kalium (K₁₉) hingga Uranium (U₉₂).
- Algoritma EFP Canggih: Meningkatkan akurasi dan keandalan pengukuran.
- Platform Bergerak Presisi Tinggi: Platform bergerak XY dengan jangkauan 50mm x 50mm untuk penempatan sampel yang akurat.
- Tabung Sinar-X Microfocus & Detektor Si-Pin: Menjamin resolusi tinggi dan sensitivitas optimal.
- Kemampuan Zoom dan Fokus: Zoom optik: 38–46X, zoom digital: 400–200X.
- Zoom dan fokus manual dengan lensa sensitif tinggi dan CCD berwarna.
- Kompensasi Jarak: Mengukur sampel yang tidak rata dan berbentuk khusus dengan rentang zoom 0-30mm.
- Teknologi Fokus Cahaya Rendah: Meminimalkan difusi titik hingga di bawah 10% untuk penargetan yang presisi.
- Perangkat Lunak Ramah Pengguna: Secara otomatis mendeteksi kesalahan dan membimbing pengguna melalui langkah korektif.
- Kepatuhan: Memenuhi standar DIN ISO 3497, DIN 50987, dan ASTM B568.
3. Keunggulan
- Pengujian Non-Destruktif: Memberikan pengukuran yang presisi tanpa merusak sampel.
- Efisiensi Tinggi: Mengurangi waktu pengujian hingga 60 detik per analisis.
- Serbaguna: Cocok untuk berbagai industri termasuk perhiasan, elektronik, otomotif, dan lainnya.
- Akurasi Tinggi: Memberikan data andal untuk pelapisan setipis Au: 0,182µm, Pd: 0,352µm, dan Pt: 1,157µm.
- Efisiensi Biaya: Membantu mengurangi pemborosan bahan dan meningkatkan proses kontrol kualitas.
- Operasi Mudah: Meminimalkan kebutuhan pelatihan dan kesalahan operator.
- Desain Tangguh: Dibangun untuk lingkungan laboratorium dan industri dengan struktur yang kuat serta manajemen termal canggih.
Ideal untuk aplikasi jaminan kualitas dan penelitian, VR-XAU menggabungkan teknologi mutakhir dengan fungsionalitas praktis untuk memenuhi kebutuhan analisis ketebalan pelapisan modern yang menuntut.
Penganalisis Ketebalan Lapisan: VR-XD 1000
1. Ikhtisar Produk
VR-XD1000 adalah analyzer ketebalan pelapisan fluoresensi sinar-X (XRF) dengan biaya efektif tinggi yang dirancang untuk pengukuran pelapisan tunggal atau multi-lapisan serta komposisi larutan plating secara serbaguna dan efisien. Dengan sumber sinar-X micro-fokus yang canggih dan algoritma EFP pintar, perangkat ini memberikan analisis cepat, non-destruktif, dan sangat akurat bahkan pada benda kerja berukuran besar, bentuk kompleks, dan sampel dengan permukaan cekung atau tidak rata. Ideal untuk industri seperti otomotif, elektronik, tenaga listrik, dan finishing logam, XD-1000 menggabungkan performa, kemudahan penggunaan, dan keandalan dalam sistem benchtop yang kompak.
2. Fitur Utama
- Jalur Optik Atas-ke-Bawah: Memungkinkan pengukuran stabil dan efisien pada sampel besar dengan bentuk tidak beraturan dan pengujian multi-titik.
- Sumber Sinar-X Micro-Fokus: Sistem optik terintegrasi memungkinkan analisis area kecil hingga 0,01mm².
- Zoom dan Koreksi Jarak: Mengukur sampel dengan permukaan tinggi bervariasi dan cekungan dalam rentang 0–90mm.
- Algoritma EFP Canggih: Mendukung analisis pelapisan multi-lapisan dan multi-unsur, termasuk komposisi dan ketebalan lapisan paduan serta elemen yang berulang di beberapa lapisan.
- Teknologi Dekompisi Spektral: Mengurangi gangguan dari unsur berdekatan, meningkatkan akurasi dan batas deteksi.
- Antarmuka Ramah Pengguna: Operasi sederhana dengan perangkat lunak intuitif yang memandu kalibrasi, pengukuran, dan diagnosa kesalahan.
- Dukungan Aplikasi Luas: Cocok untuk sistem pelapisan Zn/Fe, ZnNi/Fe, Sn/Cu, Ag/Sn, Cr/Ni/Cu, dan banyak sistem pelapisan lainnya.
3. Keunggulan
- Akurasi dan Reproduksibilitas Tinggi: Memberikan data ketebalan dan komposisi yang andal, penting untuk jaminan kualitas.
- Pengujian Non-Destruktif: Mempertahankan integritas sampel sambil memberikan hasil instan.
- Adaptif untuk Geometri Kompleks: Mampu mengukur komponen cekung, melengkung, dan berukuran besar dengan mudah.
- Efisien Waktu dan Biaya: Mengurangi limbah dan pengerjaan ulang melalui analisis cepat dan persiapan sampel minimal.
- Cakupan Industri Luas: Ideal untuk suku cadang otomotif, perangkat keras sanitasi, elektronik, komponen tenaga listrik, dan finishing logam umum.
- Biaya Operasi Rendah: Desain hemat energi dengan kebutuhan perawatan minimal.
- Kepatuhan Regulasi: Membantu pengguna memenuhi standar internasional untuk kualitas pelapisan dan komposisi material.
Cocok untuk laboratorium kontrol kualitas maupun area produksi, VR-XD1000 menawarkan solusi yang kuat sekaligus ekonomis untuk tantangan modern dalam analisis ketebalan lapisan dan material.