Espectrómetro EDXRF para Análisis de Espesor de Recubrimientos

El espectrómetro VR-XAU EDXRF ofrece un análisis preciso y no destructivo del espesor y la composición de recubrimientos. Utilizando un algoritmo EFP avanzado y tecnología de rayos X de microenfoque, mide de forma eficiente recubrimientos multicapa (hasta 23 capas) sobre diversos sustratos, garantizando el control de calidad y el cumplimiento normativo en industrias como joyería, electrónica y automoción.

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Especificaciones

Hasta 23 capas simultáneamente

Análisis de recubrimientos

Lente de alta sensibilidad, enfoque manual.

Modo de enfoque

K(19) to U(92)

Rango de análisis de elementos

Óptico 38-46X, Digital 200-400X

Aumento

Algoritmo EFP avanzado

Algoritmo central

Plataforma móvil XY de alta precisión (50 mm x 50 mm)

Plataforma móvil

Customized Si-PIN Detector

Tipo de detector

210mm

Chamber Height

Tubo de rayos X de microfoco

Tubo de rayos X

545x380x435mm

Dimensiones de la máquina

Φ0.5mm

Tamaño del colimador

48KG

Peso

0-30 mm (con función de compensación de distancia)

Medición de distancia

DIN ISO 3497, DIN 50987, ASTMB568

Normas de cumplimiento

CCD color de 1/2,7” con función de zoom

Observación de muestra

VR-XAU Analizador de Espesor de Recubrimientos: Precisión y Rendimiento para la Medición de Recubrimientos Multicapa

El VR-XAU es un avanzado analizador EDXRF (Fluorescencia de Rayos X por Dispersión de Energía) diseñado para la medición de alta precisión y no destructiva de recubrimientos de una o múltiples capas sobre diversos materiales base. Combinando hardware de última generación con software inteligente, ofrece resultados fiables para el control de calidad, la optimización de procesos y la verificación de conformidad en un amplio rango de industrias.

Equipado con un tubo de rayos X de microenfoque y un detector Si-PIN de alta resolución, el instrumento permite el análisis simultáneo de hasta 23 capas de recubrimiento con una precisión excepcional—hasta niveles submicrónicos. Su avanzado algoritmo EFP garantiza mediciones estables y repetibles incluso en superficies complejas o curvas.

Las características clave incluyen una plataforma XY de alta precisión para mediciones automáticas multipunto, una cámara CCD a color integrada con zoom y enfoque manual, y tecnología de enfoque en baja iluminación para un alineamiento consistente del punto de medición. El software intuitivo detecta automáticamente errores operativos y guía al usuario, reduciendo el tiempo de capacitación y minimizando fallos.

El VR-XAU cumple con normas internacionales como DIN ISO 3497, ASTM B568 y DIN 50987, convirtiéndolo en una solución ideal para aplicaciones en recubrimientos de metales preciosos, electrónica, automoción y manufactura aeroespacial. Su diseño robusto y sus sofisticadas capacidades analíticas lo convierten en una herramienta rentable para mejorar la calidad del producto y la eficiencia de fabricación.

Pruebas Rápidas

Obtenga resultados en 30 segundos, mejorando significativamente la eficiencia.

Aplicaciones Versátiles

Apto para una amplia gama de casos de uso.

Análisis de Alta Precisión

Algoritmos avanzados y sistemas ópticos garantizan exactitud y fiabilidad.

Pruebas No Destructivas

El análisis sin contacto preserva las muestras intactas.

VR-XAU: Precisión Inigualable en la Medición de Espesores de Recubrimiento

El analizador de espesor de recubrimientos VR-XAU establece un nuevo estándar de precisión y eficiencia en el análisis no destructivo de recubrimientos. Combina hardware avanzado con software inteligente para ofrecer capacidades fiables de medición multicapa en una amplia variedad de aplicaciones industriales.

Ventajas Principales:

Análisis Multicapa: Mide simultáneamente hasta 23 capas de recubrimiento, proporcionando datos completos en una sola prueba.
Algoritmo EFP Avanzado: Garantiza resultados altamente estables y repetibles, incluso en superficies curvas o muestras de geometría compleja.
Pruebas No Destructivas: Analiza los recubrimientos sin dañar la muestra, ideal para el control de calidad en productos terminados.
Cumplimiento Normativo: Cumple con normas internacionales (DIN ISO 3497, ASTM B568, DIN 50987), asegurando resultados reconocidos globalmente.

Características Clave:

Componentes de Alta Resolución: Utiliza un tubo de rayos X de microenfoque y un detector Si-PIN personalizado para una sensibilidad y un nivel de detalle superiores.
Movimiento de Precisión: Equipado con una plataforma XY de alta precisión (50 mm × 50 mm) para mapeo automatizado multipunto.
Visualización Mejorada: Incluye una cámara CCD a color con zoom manual (óptico 38–46X, digital hasta 400X) y enfoque para un posicionamiento preciso del punto de medición.
Software Inteligente: Interfaz fácil de usar que diagnostica fallas automáticamente y guía la operación, reduciendo errores humanos.
Medición Versátil: La función de compensación de distancia permite un análisis preciso de muestras irregulares y de formas especiales.